Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы
Филатов Д.О., Круглов А.В.
В лабораторной работе рассматриваются принципы работы сканирующего туннельного микроскопа и методика исследования топографии и туннельной спектроскопии поверхности твердых тел. Предназначена для студентов специализации ''Физика твердотельных наноструктур'', обучающихся по специальности 200.200 ''Микроэлектроника и полупроводниковые приборы''. Описание лабораторной работы подготовлено в Научно-образовательном центре сканирующей зондовой микроскопии ННГУ в рамках совместной Российско-американской программы ''Фундаментальные исследования и высшее образование''
Categorie:
Anno:
2001
Casa editrice:
НОЦ СЗМ Нижегородского государственного университета
Lingua:
russian
Pagine:
22
File:
PDF, 422 KB
IPFS:
,
russian, 2001
Litres
Vuole aggiungere una libreria? Contattaci su support@z-lib.fm
Converti i file
Più risultati di ricerca
Altri vantaggi 
Termini più frequenti
Liste di libri correlati
